拓扑半金属表面态的拓扑数证明

本研究针对现有拓扑半金属领域表面态拓扑数严谨数学证明不足的问题，基于格林函数卷绕数框架，重构适配开放边界的表面态低能有效哈密顿量，完成表面态拓扑数非平庸性的独立核验，验证其与体态拓扑不变量的严格整数对应关系，为拓扑半金属实验识别与低功耗拓扑器件研发提供坚实数理支撑。